Katedra za fiziku u grafičkoj tehnologiji

Fizikalni principi nerazornih metoda mjerenja u grafičkoj reprodukciji

Naziv kolegija:

 

FIZIKALNI PRINCIPI METODA MJERENJA U GRAFIČKOJ REPRODUKCIJI

 

Izvođač:  doc. dr. sc. Katarina Itrić Ivanda  Satnica: 30  ECTS: 7

 

Sadržaj:

Pregled suvremenih nerazornih metoda u grafičkoj tehnologiji. Elektronski mikroskop (Scanning Electron Microscoipy, SEM) i elektronsko mikroskospiranje u standardnim uvjetima okoline (Enviromental Scanning Electron Microscopy; ESEM). X-spektroskopija kao posljedica interakcije brzih elektrona s uzorkom. Spektroskopija u vidljivom, ultraljubičastom (Ultra Violet Resonance Raman Spectroscopy) i infracrvenom (FTIR) dijelu elektromagnetskog spektra zračenja i pripadni mjerni instrumenti. Vremenski razlučiva spektroskopija (Time resolved spectroscopy, TRS). Fotoakustični senzori (Photo Acoustic Sensors, PAS): fotoakustična spektroskopija, fotoakustična detekcija raspršenja. Matematička obrada eksperimentalnih rezultata.

 

 

Literatura:

 

J. M. Palmer: The measurement of transmision, absorption, emission and reflection; Handbook of optics II, McGraw-Hill, New York (1965)

 

N. Pauler: Paper Optics, A. B. Lorentzen & Wettre, Sweden (2001)

 

R, Johnson: Enviromental Scanning Electron Microscopy, ElectronScan Corporation, Wilmigton; Massachusett, USA (1966)

 

S. J. Fleger, J. W. Heckman, Jr., L. Karen: Scanning and Transmision Electron Microscopy, Oxford University Press, Oxford, USA (1998)